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SNJ54BCT8373AFK

零件编号： SNJ54BCT8373AFK
产品分类： 专业逻辑
制造商： Texas Instruments
描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
封装：
包装： 管子
数量： 0
RoHS 状态： YES
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产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列54BCT
包装管子
产品状态ACTIVE
包装/箱28-CLCC
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Latches
工作温度-55°C ~ 125°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包28-LCCC (11.43x11.43)

Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ112V
RES SMD 1.1K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ242V
RES SMD 2.4K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ152V
RES SMD 1.5K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
ERJ-6GEYJ302V
RES SMD 3K OHM 5% 1/8W 0805
Roving Networks (Microchip Technology)
93LC46/SN
IC EEPROM 1KBIT MICROWIRE 8SOIC
Omron Electronic Components
EE-SY410
SENSOR OPT REFLECTIVE 5MM 5DIP
Sullins Connector Solutions
PTC01SFDN
CONN HEADER VERT 1POS
Sullins Connector Solutions
PZC01SABN
CONN HEADER VERT 1POS
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