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SNJ54ABT8646JT

Numéro de pièces SNJ54ABT8646JT
Classification des produits Logique spécialisée
Fabricants Texas Instruments
Décrire SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS
encapsulé
Emballage Tube
quantité 0
État de RoHS YES
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Produits Paramètres
PDF(1)
TAPERDESCRIPTION
FabricantTexas Instruments
Série54ABT
EmballerTube
État du produitACTIVE
Colis/Caisse28-CDIP (0.300", 7.62mm)
Type de montageThrough Hole
Nombre de bits8
Type logiqueScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Température de fonctionnement-55°C ~ 125°C
Tension d'alimentation4.5V ~ 5.5V
Package d'appareil du fournisseur28-CDIP

Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 133.0000MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 24.5760MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 100.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 125.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSCILLATOR, ULTRA LOW POWER
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 133.3330MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 175.0000MHZ LVDS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC LOW JITTER 125MHZ LVDS
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