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SNJ54BCT8373AFK

Numéro de pièces： SNJ54BCT8373AFK
Classification des produits： Logique spécialisée
Fabricants： Texas Instruments
Décrire： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
encapsulé：
Emballage： Tube
quantité： 0
État de RoHS： YES
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Produits Paramètres
PDF(1)
TAPERDESCRIPTION
FabricantTexas Instruments
Série54BCT
EmballerTube
État du produitACTIVE
Colis/Caisse28-CLCC
Type de montageSurface Mount
Nombre de bits8
Type logiqueScan Test Device with D-Type Latches
Température de fonctionnement-55°C ~ 125°C
Tension d'alimentation4.5V ~ 5.5V
Package d'appareil du fournisseur28-LCCC (11.43x11.43)

Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001DI1-133.0000T
MEMS OSC XO 133.0000MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001BL5-024.5760T
MEMS OSC XO 24.5760MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1122BI1-100.0000T
MEMS OSC XO 100.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1122AI1-125.0000T
MEMS OSC XO 125.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC6001JE1B-052.0000T
MEMS OSCILLATOR, ULTRA LOW POWER
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001BI5-133.3330T
MEMS OSC XO 133.3330MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1123CI2-175.0000T
MEMS OSC XO 175.0000MHZ LVDS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1123DI1-125.0000T
MEMS OSC LOW JITTER 125MHZ LVDS
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