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CT2970

部品ナンバー： CT2970
製品カテゴリ： キット、詰め合わせ
メーカー： Cal Test Electronics
説明： DELUXE SMD PROBE KIT IEC61010 W/
パッケージ：
包装する： バルク
数量： 0
RoHS状態： YES
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製品パラメータ
PDF(1)
タイプ説明
製造元Cal Test Electronics
シリーズCal Test
パッケージバルク
製品の状態OBSOLETE
キットの種類DMM Kit
コンテンツGrabbers, Probes, Test Leads

Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001DI1-133.0000T
MEMS OSC XO 133.0000MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001BL5-024.5760T
MEMS OSC XO 24.5760MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1122BI1-100.0000T
MEMS OSC XO 100.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1122AI1-125.0000T
MEMS OSC XO 125.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC6001JE1B-052.0000T
MEMS OSCILLATOR, ULTRA LOW POWER
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001BI5-133.3330T
MEMS OSC XO 133.3330MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1123CI2-175.0000T
MEMS OSC XO 175.0000MHZ LVDS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1123DI1-125.0000T
MEMS OSC LOW JITTER 125MHZ LVDS
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