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SNJ54BCT8374AFK

部品ナンバー SNJ54BCT8374AFK
製品カテゴリ 特殊ロジック
メーカー Texas Instruments
説明 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
パッケージ
包装する チューブ
数量 0
RoHS状態 YES
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製品パラメータ
PDF(1)
タイプ説明
製造元Texas Instruments
シリーズ54BCT
パッケージチューブ
製品の状態ACTIVE
パッケージ・ケース28-CLCC
取付タイプSurface Mount
ビット数8
ロジックタイプScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
動作温度-55°C ~ 125°C
供給電圧4.5V ~ 5.5V
サプライヤーデバイスパッケージ28-LCCC (11.43x11.43)

Panasonic Electronic Components
RES SMD 1.1K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
RES SMD 2.4K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
RES SMD 1.5K OHM 5% 1/8W 0805
Panasonic Electronic Components
RES SMD 3K OHM 5% 1/8W 0805
Roving Networks (Microchip Technology)
IC EEPROM 1KBIT MICROWIRE 8SOIC
Omron Electronic Components
SENSOR OPT REFLECTIVE 5MM 5DIP
Panasonic Electronic Components
RES 68 OHM 5% 3W AXIAL
Panasonic Electronic Components
RES 560 OHM 5% 3W AXIAL
Panasonic Electronic Components
RES 5.1K OHM 5% 3W AXIAL
Panasonic Electronic Components
RES 43K OHM 5% 3W AXIAL
关闭
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