86-13826519287‬
取消

SNJ54BCT8374AFK

Номер запчастей SNJ54BCT8374AFK
Классификация продукции Специальность Логика
Производитель Texas Instruments
Описание SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
Упаковка
Упаковка Трубка
Количество 0
Состояние RoHS YES
Поделиться
Продукты параметры
PDF(1)
ТИПОПИСАНИЕ
ПроизводительTexas Instruments
Ряд54BCT
УпаковкаТрубка
Статус продуктаACTIVE
Пакет/кейс28-CLCC
Тип монтажаSurface Mount
Количество битов8
Тип логикиScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Рабочая Температура-55°C ~ 125°C
Напряжение питания4.5V ~ 5.5V
Пакет устройств поставщика28-LCCC (11.43x11.43)

Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 133.0000MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 24.5760MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 100.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 125.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSCILLATOR, ULTRA LOW POWER
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 133.3330MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 175.0000MHZ LVDS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC LOW JITTER 125MHZ LVDS
关闭
Inquiry
captcha

86-13826519287‬
0