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SNJ54BCT8374AFK

零件编号： SNJ54BCT8374AFK
产品分类： 专业逻辑
制造商： Texas Instruments
描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
封装：
包装： 管子
数量： 0
RoHS 状态： YES
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产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列54BCT
包裹管子
产品状态ACTIVE
包装/箱28-CLCC
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
工作温度-55°C ~ 125°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包28-LCCC (11.43x11.43)

Cinch Connectivity Solutions Johnson
105-0604-001
CONN TIP JACK TURRET GREEN
Panasonic Electronic Components
ECS-F1HE475K
CAP TANT 4.7UF 20% 50V RADIAL
Wickmann / Littelfuse
01020079H
FUSE CLIP CARTRIDGE 250V 15A PCB
Wickmann / Littelfuse
S2008L
SCR 200V 8A TO220
Cinch Connectivity Solutions Johnson
108-0907-001
CONN BANANA JACK SLDR TABS YLW
3M
929665-03-36-I
CONN HEADER VERT 72POS 2.54MM
Wickmann / Littelfuse
031801.5H
FUSE GLASS 1.5A 250VAC 3AB 3AG
Wickmann / Littelfuse
0313.750H
FUSE GLASS 750MA 250VAC 3AB 3AG
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